Preview

Труды Института системного программирования РАН

Расширенный поиск
Полноэкранный режим

Для цитирования:


ХОДАТАЕВА Т.С., КАШИРИН Н.В., АВЕРИНА А.И., ГУРЬЯНОВ А.Е. Подходы к разработке системы обнаружения дефектов печатных плат на основе технологии АОИ. Труды Института системного программирования РАН. 2023;35(4):109-120. https://doi.org/10.15514/ISPRAS-2023-35(4)-5

For citation:


KHODATAEVA T.S., KASHIRIN N.V., AVERINA A.I., GURYANOV A.E. Approaches to the Development of a Printed Circuit Board Defect Detection System Based on AOI Technology. Proceedings of the Institute for System Programming of the RAS (Proceedings of ISP RAS). 2023;35(4):109-120. (In Russ.) https://doi.org/10.15514/ISPRAS-2023-35(4)-5



Creative Commons License
Контент доступен под лицензией Creative Commons Attribution 4.0 License.


ISSN 2079-8156 (Print)
ISSN 2220-6426 (Online)